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川韧

木虫 (正式写手)

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专业: 特殊与极端环境下的高分子

[求助] XPS小白，最近用XPS分峰，background后，基线不平的问题已有2人参与

各位大神，最近刚刚接触XPS，得到的数据根据网上教程进行分峰，发现第一步background就出现问题，发现background type选择shirley基线总是不平，调整slope也调整不好，type选择Tougaard就是平的，请问可以直接用Tougaard的type么？见图。用的是C1S数据。

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加油

1楼2016-10-06 10:29:58

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川韧

木虫 (正式写手)

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引用回帖:

10楼: Originally posted by para_popbean at 2016-10-06 17:16:07
删掉前面一些多余的数据试试，不要调整highbe那个，导出到origin有问题

谢谢同学，但是我还有几个问题想请教一下，希望同学帮忙解答一下。
1、Si2P在通常的XPS谱图中只显示一个峰，但是其实它能够能级裂分，是有两个峰的。我的表面物质Si有两种结合形式（Si-C，Si-O），对其进行分峰拟合，应该是分出来两种峰，这两种峰拟合与原始数据线重合不是很好，进行调整过程，是不是就应该将这两种峰看成同一元素的能级裂分，所以需要保证两个峰的面积比为1:2，半峰宽相等，间距相差1.1ev左右？
2、导入到origin中的曲线最下面有条波浪线，我直接将其删除过后的图谱就可以直接用了吧？