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【求助】电离层测高仪的原理
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电离层测高仪的原理是什么，一直不明白？哪位知道，请赐教啦！ [ Last edited by ewigkeit on 2008-12-5 at 22:03 ] |
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电离层测高仪的原理
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电离层测高仪的原理是:垂直向上发射高频无线电脉冲，接收在不同频率上由电离层反射的回波。垂直探测的入射频率f在1-30 MHz范围变化（扫描频率），接收在不同频率上由电离层反射的回波，测量回波的传播时间τ,得到τ或者虚高 (h’= c τ / 2) 随频率变化曲线，即电离图或频高图(ionogram)，c为自由空间中电磁波传播速度。 通过度量，解释和分析反演频高图，得到探测点上空F2层峰高度以下电子密度随高度分布，即电子密度剖面，这是传统电离层垂直探测方法能够提供的最重要的关于电离层结构的信息。现代数字测高仪除了测量回波的传播时间，还测量回波的偏振、振幅和相位谱，以及回波到达角，提供更丰富的关于电离层结构与动力学的信息。 |
2楼2009-07-04 22:14:53