[求助] 有什么试剂可以测出硅片中某种元素的含量吗

2楼: Originally posted by 周海锋 at 2016-09-14 15:58:35
？能否说的更清楚些

4楼: Originally posted by 00121058 at 2016-09-14 18:22:01
我想通过杂质在凝固界面的浓度差异，使用某种腐蚀液把界面的形貌显示出来，有这样的腐蚀液吗？
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5楼: Originally posted by 周海锋 at 2016-09-14 20:45:02
多晶硅锭生长，本身就是不断分凝的状态，硅片能看到的杂质分布和固液界面的不太一致，，还是说是要看跳步生长时的固液界面？
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6楼: Originally posted by 00121058 at 2016-09-14 21:06:12
我做的是定向凝固，沿轴向。随着时间的推移，固液界面沿轴向生长，我现在想画出某一时刻固液界面在径向的形貌，理论上讲应该是一条曲线，我现在就想有实验的方法弄出来，有人是用化学腐蚀法，不管用什么方法，能弄 ...

6楼: Originally posted by 00121058 at 2016-09-14 21:06:12
我做的是定向凝固，沿轴向。随着时间的推移，固液界面沿轴向生长，我现在想画出某一时刻固液界面在径向的形貌，理论上讲应该是一条曲线，我现在就想有实验的方法弄出来，有人是用化学腐蚀法，不管用什么方法，能弄 ...

8楼: Originally posted by 周海锋 at 2016-09-15 05:06:56
我认为做不出来，你的意思是定向凝固生长的硅片，使用化学法剥出原有凸型的固液界面，然后查看固液界面的杂质含量，，但是我没读到同类型实验的文章，或者仿真可以试试
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8楼: Originally posted by 周海锋 at 2016-09-15 05:06:56
我认为做不出来，你的意思是定向凝固生长的硅片，使用化学法剥出原有凸型的固液界面，然后查看固液界面的杂质含量，，但是我没读到同类型实验的文章，或者仿真可以试试
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