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基于红外连用的原子力显微镜在纳米尺度上的化学表征
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| 原子力显微镜，由于其较高的分辨率和对样品的广泛适应性，在表面形貌以及物理特性比如电学，磁学以及纳米力学表征方面应用很广，是目前研究纳米科技和材料分析的最重要的工具之一。至今，原子力显微镜已发展出许多分析功能，但一直在大家非常关心的化学成分表征方面进展缓慢。最近几年基于红外光谱连用技术使得化学表征成为可能。目前主流的技术分为两种，一种是由法国科学家Dazzi等人基于光热诱导共振现象开发的原子力红外（AFM-IR）技术。另一种是基于针尖近场散射技术的s-SNOM技术。两种技术都能实现微区（声称10纳米）的光谱信号采集和成像，从而获得化学成分信息。AFM-IR因为是基于红外吸收，其得到的微区红外光谱与宏观傅立叶光谱一致性更好，无需模型校正，在高分子，有机物以及生物方面应用广泛；基于s-SNOM技术，其应用收到样品限制，因为之后对红外光有较强散射的样品才能得到信号，而且其得到的红外光谱的波数有漂移，使得定性表征受到一定影响。散射信号的复杂性，使得必须有模型进行修正，使得结果的理解不够直接。但SNOM技术可以对二维材料方面的等离子基元方面进行非常好的表征，这是另外一个应用。两篇文章对这两种技术的机理和应用都进行了详细的介绍，应该是该领域最新的综述。希望对虫友有帮助！ |
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- 附件 2 : Muller,_Pollard,_Raschke_2015_Infrared_Chemical_Nano-ImagingAccessing_Structure,_Coupling,_and_Dynamics_on_Molecular_Length_Scales.pdf
2016-09-11 10:39:54, 2.93 M
2016-09-11 10:42:10, 4.71 M
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