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hitpoint9

新虫 (初入文坛)

[求助] 低硅FAU分子筛TEM测试求助已有2人参与

本人做了一个低硅铝比FAU型分子筛样品,硅铝比在一左右。想通过透射电镜照出晶格的照片,但是电子束打到样品上的一瞬间样品立刻被破坏,看上去好像样品溶解了一样。之前还尝试过调低spot size的方法也不行,求助有没有人知道如何进行测试能够样品,非常感谢!!!
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zymc1994

金虫 (著名写手)

【答案】应助回帖


感谢参与,应助指数 +1
hitpoint9(冰点降温代发): 金币+1 2016-08-31 14:21:30
TEM还会打碎分子筛?蛮有意思,
请问样品是怎么制备的呢?试试做厚一点的样片。
2楼2016-08-31 01:21:24
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
冰点降温: 金币+2, 谢谢专家回帖,欢迎常来无机物化版块。 2016-08-31 14:41:46
hitpoint9(冰点降温代发): 金币+2 2016-08-31 14:41:54
hitpoint9: 金币+2, ★★★★★最佳答案 2016-10-14 14:43:05
做衍射吧,或者做冷冻电镜,对电子束敏感确实没法做高分辨的话,可以考虑用电子衍射间接反映一下结构信息
3楼2016-08-31 14:26:56
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