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头文字d

铁虫 (正式写手)

[求助] AFM Si针尖横着振动也能扫出样品的高度图,这是什么原理? 已有1人参与

剪切力?
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer


【答案】应助回帖

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个人认为,这和针尖纵向振动扫描出样品的表面轮廓高度的原理是相似的,只要针尖可以到达样品表面的任何部位就行。

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2楼2016-08-15 12:49:08
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iamxhb

铁虫 (正式写手)

3楼2016-08-16 12:17:25
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iamxhb

铁虫 (正式写手)

4楼2016-08-16 12:17:49
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头文字d

铁虫 (正式写手)

送红花一朵
引用回帖:
2楼: Originally posted by peterflyer at 2016-08-15 12:49:08
个人认为,这和针尖纵向振动扫描出样品的表面轮廓高度的原理是相似的,只要针尖可以到达样品表面的任何部位就行。

好像是这个样子。。感谢

发自小木虫Android客户端
5楼2016-08-16 16:39:30
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