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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 微纳加工 » AFM Si针尖横着振动也能扫出样品的高度图，这是什么原理？
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头文字d

铁虫 (正式写手)

[求助] AFM Si针尖横着振动也能扫出样品的高度图，这是什么原理？ 已有1人参与

剪切力？
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1楼 2016-08-15 10:29:13
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
个人认为，这和针尖纵向振动扫描出样品的表面轮廓高度的原理是相似的，只要针尖可以到达样品表面的任何部位就行。
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» 本帖已获得的红花（最新10朵）

头文字d
2楼2016-08-15 12:49:08
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iamxhb

铁虫 (正式写手)
分子间的斥力

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3楼2016-08-16 12:17:25
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iamxhb

铁虫 (正式写手)
抱歉看错了

发自小木虫IOS客户端
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4楼2016-08-16 12:17:49
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头文字d

铁虫 (正式写手)
送红花一朵
引用回帖:
2楼: Originally posted by peterflyer at 2016-08-15 12:49:08
个人认为，这和针尖纵向振动扫描出样品的表面轮廓高度的原理是相似的，只要针尖可以到达样品表面的任何部位就行。

好像是这个样子。。感谢

发自小木虫Android客户端
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5楼2016-08-16 16:39:30
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