| 查看: 327 | 回复: 0 | ||
[求助]
衡量固态硬盘寿命的参考参数有哪些
|
|
我最近在做与固态硬盘相关的一个课题，但是因为知识的限制，我对硬盘内部构造了解不多，想在此请教懂固态硬盘内部构造的人两个问题： 1、硬盘的寿命主要是受什么因素的影响，可以由什么参数来衡量。我在网上看见可以使用软件测试，但是我想通过实验来进行实际的测量，目前想过电阻以及温度或者裂痕变化，想问一下有没有其他比较准确的参数来衡量硬盘的性能。 2、硬盘内部的芯片很多，我查过有主控芯片、flash芯片、部分硬盘还有存储芯片，如果可以测温度和电阻的话，那么到底应该测试那一块呢。（网上查资料显示主控芯片最重要，但是flash芯片最容易坏掉，但是我不知道这是否准确）； |
回复此楼» 猜你喜欢
关于授权的相关合作
已经有0人回复
-
α-半水石膏酸溶液法制备
已经有0人回复
-
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有268人回复
-
招收申请审核制博士研究生，硬碳、硅碳等碳基电化学储能材料方向
已经有3人回复
-
中国地质大学（武汉）地质资源与地质工程学科招收硕士
已经有0人回复
-
《中国海上油气》期刊
已经有4人回复
-
定制雾化喷头
已经有0人回复
-
无机非金属材料-申博
已经有24人回复
-
武汉大学国家高层次青年人才课题组/院士团队岩土工程/矿业方向招2026年博士生
已经有0人回复
-
华南农业大学禹筱元教授课题组诚招2026级博士生
已经有0人回复
-
诚邀硅碳、硬碳方向青年才俊加入南京林业大学何水剑教授课题组
已经有0人回复
10