[交流] 新的成像光谱型椭偏仪和X射线辐照仪，希望有需要测试的虫子积极联系！ 已有1人参与

本人所在的中国科学院上海应用物理研究所新配备了成像光谱型椭偏仪和X射线辐照仪，并加入共享系统，欢迎有需要测试的虫子们能积极联系，资源共享。也希望精通这个领域的虫子能够多多指教，相互学习，相互交流。联系方式：021-39194081，免贵姓俞。 成像光谱型椭偏仪 制造厂商：德国Accurion 仪器型号：Nanofilm_EP4SE 仪器功能简介：主要针对化学、物理、生物和半导体等领域的薄膜的光学表面分析技术。利用椭偏技术，测量分析薄膜的厚度、折光率、介电常数等。 本仪器的最大特点： 1、配备有光学成像系统，可以使被测样品的尺寸缩小到微米级别，也可以对薄膜样品的微结构进行测量分析； 2、配备有光束切割系统，可以分析透明基底表面的薄膜样品； 3、配备有液体样品槽，可以分析不同温度和不同液体环境下的薄膜样品； 4、3D成像功能，利用成像椭偏技术，获得薄膜在被测微区的厚度或光学常数值，并将结果绘制成三维图像，更加直观的了解薄膜光学表面的微结构分布。 X射线辐照仪： 制造厂商：美国Faxitron 仪器型号：MultiRad 160 仪器功能简介：通过射线管发出的高能X射线对样品进行辐照，研究样品在高能辐照下的物理、化学、生物等性质的变化。 仪器特点： 1、未过滤最大剂量率：300Gy/min;过滤后最大剂量率：30Gy/min(使用2mm Al过滤片)； 2、配备有电动旋转样品台；射线辐照范围（直径）：9-40cm。 15C29AC4C795BC7450049E27FB15207A.png

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