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summerfox008新虫 (正式写手)
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薄膜表面粗糙度较大，是否适合用椭偏仪测量其光学属性呢？ 已有1人参与
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| 我在钛合金表面通过激光氧化的方法，得到了二氧化钛薄膜，现在想研究薄膜的光学属性。我测量过钛合金基底及薄膜的表面粗糙度，都在几百个纳米，而薄膜的厚度，应该是几十个纳米。我想请问，这种情况，还适合用椭偏仪来测量薄膜的光学属性么？如果不适合，又该用什么仪器呢？我主要是想要研究薄膜的反射率折射率。 |
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