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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 还原氧化石墨烯纸的导电率测量
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息衍将军

银虫 (初入文坛)

[求助] 还原氧化石墨烯纸的导电率测量 已有2人参与

我在不同条件下还原了一批氧化石墨烯抽滤得到的薄纸，然后想通过测量它们的导电率还比较还原条件的好坏。
用的是四点法测量，想通过下面的公式计算材料的导电率

ρ=(piVd)/(ln2*I)
其中d是纸张的厚度。 我想问一下这个厚度应该用AFM测出来的值 还是 应该直接用螺旋测微器（精度为1um）测出来的值？
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1楼 2016-05-19 22:17:45
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微晶石墨烯

禁虫 (初入文坛)
感谢参与，应助指数 +1
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2楼2016-05-20 08:44:53
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息衍将军

银虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by 微晶石墨烯 at 2016-05-20 08:44:53
我认为应该是用AFM来测这个纸张的厚度，希望能帮到你

又更加详细的资料解释或者介绍么= =
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3楼2016-05-20 21:27:42
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tanch000

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
螺旋测微仪多次测量取平均值也可以 因为四点法测量本身接触电阻影响就比较大 是主要误差来源。个人观点

发自小木虫Android客户端
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4楼2016-05-21 08:30:11
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息衍将军

银虫 (初入文坛)
引用回帖:
4楼: Originally posted by tanch000 at 2016-05-21 08:30:11
螺旋测微仪多次测量取平均值也可以 因为四点法测量本身接触电阻影响就比较大 是主要误差来源。个人观点

四点法测量本身不是去除了接触电阻的影响吗？
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5楼2016-05-23 19:27:06
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