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2012002551

银虫 (正式写手)

[求助] 关于XRD算晶粒尺寸 已有2人参与

请问下测得的XRD数据在算经历尺寸之前要不要进行背景的扣除和平滑,处理前后算出的东西偏差还是很大的

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zhankanhap

木虫 (小有名气)

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感谢参与,应助指数 +1
从规范角度说是必须的,因为仪器本身的半高宽贡献往往不小。之前看到一份XRD教程,中南大学一位老师编的,说是好像要用到标准样矫正确定仪器的影响…
当然如果要求不高的话,不校正也行,只要算出来的晶粒尺寸和实场图在同一尺寸。。
自己看需要选择喽~~

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侃侃而谈
2楼2016-05-07 00:00:17
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夜策冷

铁杆木虫 (知名作家)

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★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
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2012002551: 金币+10 2016-05-07 06:55:43
个人感觉背景扣除是无所谓的,平滑则不可取。

如果是用williamson方法的话背景对半高宽影响不大。扣除只是为了更方便处理数据。

xrd得到的图样是原始图样。平滑过程相当于把原始图样信息模糊化了,会影响准确值。

我本人做过二三十组xrd测晶粒大小的实验,用rem检查了五六组,基本上不平滑得出的结果和tem吻合度很高,误差在10%之内。

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3楼2016-05-07 00:12:47
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2012002551

银虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by zhankanhap at 2016-05-07 00:00:17
从规范角度说是必须的,因为仪器本身的半高宽贡献往往不小。之前看到一份XRD教程,中南大学一位老师编的,说是好像要用到标准样矫正确定仪器的影响…
当然如果要求不高的话,不校正也行,只要算出来的晶粒尺寸和实场 ...

那平滑呢?由于我做的微粒大小非常不均一,所以SEM也不能和XRD进行比对,平滑感觉对整个秋裤影响特别大

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4楼2016-05-07 07:14:03
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zhankanhap

木虫 (小有名气)

那可以只扣除背底不作平滑,毕竟平滑会引入后期误差

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侃侃而谈
5楼2016-05-07 08:38:10
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