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2012002551银虫 (正式写手)
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关于XRD算晶粒尺寸 已有2人参与
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请问下测得的XRD数据在算经历尺寸之前要不要进行背景的扣除和平滑，处理前后算出的东西偏差还是很大的 发自小木虫Android客户端 |
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zhankanhap
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从规范角度说是必须的，因为仪器本身的半高宽贡献往往不小。之前看到一份XRD教程，中南大学一位老师编的，说是好像要用到标准样矫正确定仪器的影响… 当然如果要求不高的话，不校正也行，只要算出来的晶粒尺寸和实场图在同一尺寸。。 自己看需要选择喽～～ 发自小木虫Android客户端 |
2楼2016-05-07 00:00:17
夜策冷
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2012002551: 金币+10 2016-05-07 06:55:43
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2012002551: 金币+10 2016-05-07 06:55:43
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个人感觉背景扣除是无所谓的，平滑则不可取。 如果是用williamson方法的话背景对半高宽影响不大。扣除只是为了更方便处理数据。 xrd得到的图样是原始图样。平滑过程相当于把原始图样信息模糊化了，会影响准确值。 我本人做过二三十组xrd测晶粒大小的实验，用rem检查了五六组，基本上不平滑得出的结果和tem吻合度很高，误差在10%之内。 发自小木虫IOS客户端 |
3楼2016-05-07 00:12:47
2012002551
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zhankanhap
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