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求助xrd分析中的问题
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测量掺杂纳米材料时，小范围测量单个峰位时发现掺杂样品的峰不对称，也就是强度最大值所对应的角度不是峰的中心。而测量纯样品时，就不会出现这种现象，峰很对称。不知道是什么原因？ 因为大范围扫描时（20-80度），没有杂项峰，而且样品的峰强度很强，所以基本可以排除存在杂项的可能。而且这些样品是一起测量的，也不存在仪器状态不同对其产生的影响。 希望高手能指点一下。谢谢大家！ |
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zhigao721
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- 专业: 半导体材料
2楼2008-10-24 14:14:14
