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凯美克化工技术服务有限公司火月测试中心

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交直流磁化率/RT/RH曲线/透射/扫描电镜/XRD/XPS/BET测试

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联系人: 于书胜 / 邮箱: huoyuetest@126.com / QQ: 1519632615 / 电话: 0635-2113880 / 手机: 15066414761/18963543212

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yushusheng

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火月测试常年提供xps xrd 红外紫外测试

仪器名称：x射线光电子能谱（xps）
厂商及型号：赛默飞舍尔 (thermol scientific)
                           escalab 250xi
主要功能及技术特色：
1.能量分辨率和灵敏度（正常工作条件下）：对ag3d5/2峰，半峰宽优于0.45 ev时，计数率强度高于80 kcps；
2. 除了mg靶外，配备了al/mg双阳极x射线源，
可精确判定俄歇电子谱；
3. 可对样品进行预处理（高真空、氮气保护h2，空气等不同气氛的处理），
原位的测定处理前后样品的表面元素的分布及价态变化。
4. 测试类型：xps，刻蚀试验，绝缘材料半导体材料（配备中和枪），线扫描，面扫描
角分辨率实验，深度剖析实验，reels实验（主要测定h元素），iss离子散射实验
（同位素测定），ups紫外电子能谱。

仪器名称：ultima iv 多功能x射线衍射仪
厂商及型号:日本理学
主要功能及技术特色：
1. x射线发生器功率为3kw
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
组合式多功能x射线衍射仪ultima iv，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

仪器名称：帕纳科x射线衍射仪
厂商及型号:帕纳科x’pert pro
主要功能及技术特色：
功率：3kw
测角仪重现性：0.0001度
发散度：<0.01度
最小步长<0.0001度
测角仪的精确度<0.0001度
高级材料科学和纳米技术，半导体材料研究和生产质量控制，可以适用各种应用，尤其适合薄膜分析，例如：摇摆曲线分析和倒易空间mapping，反射率和薄膜相分析，残余应力和织构分析， x'pert pro mrd/ xl 满足半导体、led、薄膜和高级工业材料的所有高分辨xrd分析需要。

仪器名称：uv2700 紫外可见分光光度计
厂商及型号：日本岛津 uv2700
主要功能及技术特色：
测定波长范围：185-900nm
波长准确性：  ±0.1nm（655.1nm d2），±0.3nm（all range）
波长重现性：  ±0.05nm
波长扫描速度：波长移动约14000nm/min，波长扫描约4000 to 0.5nm/min
光谱带宽： 0.1/0.2/0.5/1/2/5 nm
分辨率：    0.1nm
测光范围：吸光度：-5～5abs，透射率、反射率：0-100000%
可进行各种材料（液体、薄膜、粉末及涂层等）的多波段光谱性能测试和流体光度性能测试。积分球附件可表征纳米等粉末材料的漫反射光谱特性

tel/wechat:19157199699

[ Last edited by yushusheng on 2026-9-8 at 10:24 ]

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