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wesley

[交流] 【请教】红外光谱分析SiOx薄膜样品如何制备

如题

请高手虫虫赐教

[ Last edited by dlwang on 2008-10-22 at 09:45 ]
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qingfengmingyue

木虫 (正式写手)

★ ★
wesley(金币+1,VIP+0):难道要把我做的薄膜抠下来?!?!?!
wesley(金币+1,VIP+0):谢谢帮助 3-9 12:17
可以直接做在KBr压片上,测FTIR透射谱


重新制备SiOx薄膜啊

[ Last edited by qingfengmingyue on 2008-10-24 at 07:49 ]
2楼2008-10-22 08:59:41
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tingyee

金虫 (小有名气)

★ ★ ★
wesley(金币+1,VIP+0):我的薄膜是镀在金属基片上的,请教该如何做测试样品
wesley(金币+1,VIP+0):我的薄膜是镀在金属基片上的,请教该如何做测试样品
wesley(金币+1,VIP+0):谢谢帮助 3-9 12:17
你是用什么方法做的样品,如果是薄膜的话,你直接做到硅基底上就可以了,先扣除背底,然后测样品,如果是粉体的话,那你就需要压片了
3楼2008-10-22 09:30:08
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tingyee

金虫 (小有名气)

金属片上的话,肯定是不能用透射模式的,红外光透不过去,但一般情况下我们能测得就是透射(用一般的红外仪),你这种情况下,可以测反射,但是这个设备你们有没有就不知道了
4楼2009-03-09 13:42:51
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tingyee

金虫 (小有名气)

你们的siox是做什么用的?机械性能?
希望和你进一步交流
5楼2009-03-09 13:44:39
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xxzhang010

银虫 (正式写手)

把它溶了,旋蒸,再KBr压片。如果镀膜前的溶液还剩,直接把溶液旋蒸
6楼2009-03-15 17:42:02
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