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awd51376296金虫 (正式写手)
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[求助]
求助啊，我最近要做红外，遇到了一个问题，求大神来啊，， 已有2人参与
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我要表征一个一面处理过的透明的薄膜，不知道怎么测，，红外有ATR模式，但是测不出来，，，求助，，看到的文献上是这么说的， Infrared (IR) spectra were collected using a Fourier transform infrared spectrometer (FTIR-8400, Shimadzu Corporation, Kyoto, Japan) in ATR mode with a germanium crystal with an incidence angle of 45°. 这个应该怎么做呢，，，，，谢谢 |
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awd51376296
金虫 (正式写手)
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5楼2016-04-24 15:58:52
2楼2016-04-24 06:45:03
awd51376296
金虫 (正式写手)
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3楼2016-04-24 09:04:05
Mr__Right
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【答案】应助回帖
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awd51376296: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2016-04-24 15:57:39
awd51376296: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2016-04-24 15:57:39
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从操作的角度，需要的只是ATR衰减全反射附件，附件及其原理本身就是要求有折光率高的包括锗晶体的在内的晶体的，所以，文献的这句话基本上等于废话。只不过把常用的操作条件说得具体点而已。 从测试和表征目的的角度，ATR通常只能测样品表面很薄的一层，看你要表征的是什么成分和哪些基团。 不同方法都有自己的局限性。比如，ATR虽然使用起来无须特殊的制样，使用方便，但是，它对有机高分子材料中少量的端OH羟基之类基团极其不灵敏，不适合于通过这类基团对样品的表征。 |
4楼2016-04-24 10:11:01