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leisure112

至尊木虫 (著名写手)

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[资源] 纳米材料SEM技术

Contents
1. Fundamentals of Scanning Electron
Microscopy (SEM). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
Weilie Zhou, Robert Apkarian, Zhong Lin Wang, and
David Joy
1. Introduction. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
2. Configuration of Scanning Electron Microscopes . . . . . . . . . . . . . 9
3. Sample Preparation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
4. Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
2. Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials
Characterization. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
Tim Maitland and Scott Sitzman
1. Introduction. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
2. Data Measurement. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
3. Data Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
4. Applications . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
5. Current Limitations and Future . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
6. Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
3. X-ray Microanalysis in Nanomaterials . . . . . . . . . . . . . . . . 76
Robert Anderhalt
1. Introduction. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
2. Monte Carlo Modeling of Nanomaterials. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
3. Case Studies . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
4. Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100

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