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植株高度低的时候能用SUNSCAN冠层分析仪吗？ 已有1人参与
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各路大神，像玉米，棉花之类的作物，种的时间间距比较大，没长到足够高度前能不能用SUNSCAN冠层分析仪测定LAI ， PAR？ 是不是得等到植株有足够覆盖面积的时候测最好呢？ |
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某top大学教授说“能够在市场中兑现的能力才是真能力”无比同意！
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小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
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不需要吧，要是测透过率，你要贴着植被地面测量的。可以合适的测量地点和方式来消除植被生长不均匀的误差。您使用SUNSCAN是完全可以满足要求的。放心使用吧。之前我们在点将科技购置的专业版的SUNSCAN是可以的，使用很方便的。 用途：SunScan专业版冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（但是最好是在接近中午的时候）。专业版比标准版配置上增加了BF5日照传感器，用来参照测量直接和散射的入射光，提高测量精度。 特点： ·在植物冠层中测量入射和投射光量子（PAR）； ·直接显示叶面积指数（LAI）； ·可在阴天使用，不需要考虑特殊的天气条件； ·便携和防雨设计，采用电池供电； ·数据可自动采集，采样间隔时间1~24小时可选； ·单独SunScan探头可作为线性光量子传感器使用，可直接连接数据采集器使用。 |
2楼2018-05-17 15:03:28
