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测FTO衬底上钙钛矿薄膜的带隙宽度
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请教大家，看文献上有2种方法 1）测透射谱转换为吸收，a=-ln(T%)/d hv的计算在origin里进行，大概可以使用hv=1240/(wavelength(nm))得到 间接半导体：纵坐标为(ahv)^2，横坐标为hv 直接半导体：纵坐标为(ahv)^(1/2)，横坐标为hv 最后，做出曲线的切线（这方面我是自己拉一条直线），与横轴的交点就是Eg。 2）测漫反射谱Rx。同样也需要换算成吸收系数，使用a=(1-Rx)2/2Rx (这个就是Kubelka-Munk Function) 请问下， 这两种测试的结果有什么差别吗？另外，测试得到的投射或者漫反射谱，需要先减去FTO衬底的投射或者漫反射谱数据吗？ |
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