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随静向葵

金虫 (正式写手)

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[交流] 微米级材料核壳结构的TEM表征已有5人参与

以二氧化硅为载体，合成了3um左右的核壳结构的表面分子印迹聚合物材料，之前做了扫描电镜，通过前后对比，平均壳层为35 nm，不知道能不能通过透射电镜直接看出壳层厚度啊？因为之前看帖子说微米级的透射做不了？
谢谢啊，很着急。随时等

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hxswdl

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省不掉的事早做。紧要关头不放弃，绝望就会变成希望。不管做什么，贵在坚持。

1楼 2016-01-11 17:48:57

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papaverme

铁杆木虫 (正式写手)

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小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
随静向葵: 金币+10 2016-01-12 19:41:23

电子“穿透”能力有限，对于通常200kV左右的加速电压，样品厚度（电子穿过样品的路径）应在200nm以下才能有效透过样品成像；分辨率要求越高时，样品厚度也通常需要越薄。所以才通俗的说微米级的透射做不了。

但是注意这个限制只在平行于电子束的方向上，极端地例子，对于石墨烯，即使水平尺寸可以到数微米甚至数百微米，但厚度可能还不到1纳米，这种样品还是可以高分辨观察的。

对于你的样品，虽然总体尺寸在几个微米，但是如果真如你说的，壳层为35nm左右，则在颗粒中心部分，电子需要穿透的路径在70nm左右，在透射电镜下还是有可能表征的。只是分析的时候要结合扫描电镜，排除一些假象或错觉。