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wyzc2005银虫 (小有名气)
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划线法（截线法）测定晶粒尺寸的方法，有点小疑问！
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文献中发现这样的一个奥氏体平均晶粒尺寸计算公式： 式中D(上划线)为奥氏体平均晶粒尺寸，L为每根线长度，N为线划过的经历总数。V为放大倍数。 方法是在试样上任选五个视场，每个视场划两根相互垂直的直线，共10根。 这个文献是: 戚正风, 张从尧. 奥氏体晶粒异常长大与不均匀因子Z等的关系[J]. 金属热处理学报, 1990, 11(4): 51-60. 疑问：公式右侧分子上的1000是什么含义？ |
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wyzc2005
银虫 (小有名气)
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2楼2015-06-23 21:53:31