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hanbao

银虫 (小有名气)

[交流] 请教XRD谱图可以拼合吗?

同一个样品,分别用两种方法(主要是改变了光栅),做了1-10和5-60°的XRD谱图,在8°的位置,两张谱图都有出峰,请问我可以以此峰为参照,将两张谱图合在一起吗,这样写文章会好看些,
这样行不行,算不算造假?
或有更正规的方法吗?
PS:因为做低角区的方法扫描很慢,所以分两个方法做。
谢谢!
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纳米镍粉

荣誉版主 (职业作家)

我是大好人

优秀版主

我的看法

要是光栅等条件可以修改的话是可以的
但是你的光源步长探测器等条件是一样的吗?
工作就像海绵里的水,不用挤也一直流不停你把初夜给了虚荣,爱情给了初恋,躯壳给了我,我要它做甚?流氓不可怕,就怕流氓有文化在天愿作比翼鸟,在地愿作同圈猪
2楼2008-04-13 22:32:11
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zhousm

木虫 (正式写手)


纳米镍粉(金币+1,VIP+0):版主就是没人可以给金币的,你们可以
一般上,如果是同一个样品仅仅是光栅宽度改变了,别的条件都没有变,并且是同一次测量的,应该可以;如果不是同一次测量,可能会存在不同的零点偏差,此时可能会有一定的影响。

如果如你所说,重合8度附近的衍射峰,从而拼接两个数据。如果你能仔细处理保证很好的重合(包含角度和强度的尽可能一致),个人认为应该是可以的。

[ Last edited by zhousm on 2008-4-14 at 00:09 ]
3楼2008-04-14 00:03:29
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hanbao

银虫 (小有名气)

谢谢两位指点,犹如吃了粒定心丸啊,

我测量的是同一个样品,也是差不多时候测量的,样品不会有什么变化。
关于测量的方法,那位老师讲,就只是将发射和接受的光栅换成1/16或是1/32,其他的就是步长改变了(这样扫的就快了),

我现在就是在Origin中,将两张图以8°的峰为参照拼在一起。峰位置本身是吻合得很好,然后强度也可以调的差不多。

因为期刊的要求把原始数据附在上面,我想就把小角和大角一起附在上面,并且注明下处理方法。因为自己并不很通这方面,所以担心这样操作属于违规,现在放心了,呵呵!
4楼2008-04-14 20:08:57
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