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果粒橙198951

木虫 (小有名气)

引用回帖:
7楼: Originally posted by 刘呈锋 at 2014-06-26 10:01:25
测下XPS啊,xps可以测材料表面几个nm厚度的元素价态和含量,在测个XRD,看看晶型有没有发生变化

这个测过了,我这个氧化物很稳定,晶形未发生改变啊
11楼2014-06-26 11:24:19
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匿名

用户注销 (正式写手)

本帖仅楼主可见
12楼2014-06-26 11:52:19
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spmaster

至尊木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
因为离子半径不同,测XRD看掺杂前后衍射峰是否发生偏移,如果偏移说明晶格畸变,也就是说掺杂到晶格里了。
13楼2014-06-26 19:01:34
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tongtxuan

铁杆木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
你的材料尺寸多大,如果不是太小,可以使用STEM做一个EDS-mapping看看元素分布
No pains, no gains.
14楼2014-06-27 10:51:49
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yexyz

金虫 (正式写手)

引用回帖:
13楼: Originally posted by spmaster at 2014-06-26 19:01:34
因为离子半径不同,测XRD看掺杂前后衍射峰是否发生偏移,如果偏移说明晶格畸变,也就是说掺杂到晶格里了。

那怎么判断是进入间隙位,还是替代位呢?
15楼2014-07-18 20:11:46
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果粒橙198951

木虫 (小有名气)

引用回帖:
13楼: Originally posted by spmaster at 2014-06-26 19:01:34
因为离子半径不同,测XRD看掺杂前后衍射峰是否发生偏移,如果偏移说明晶格畸变,也就是说掺杂到晶格里了。

好的,谢谢
16楼2014-07-18 21:42:09
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果粒橙198951

木虫 (小有名气)

引用回帖:
14楼: Originally posted by tongtxuan at 2014-06-27 10:51:49
你的材料尺寸多大,如果不是太小,可以使用STEM做一个EDS-mapping看看元素分布

这个刚刚做了,但是这是有一定深度的,所以我觉得也不能说明掺到表面或者晶格了
17楼2014-07-18 21:43:48
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

引用回帖:
17楼: Originally posted by 果粒橙198951 at 2014-07-18 21:43:48
这个刚刚做了,但是这是有一定深度的,所以我觉得也不能说明掺到表面或者晶格了...

嗯,eds是体相分析,只能分析透射照出来的颗粒的全部成分情况,最好的还是XPS,SIMS也可以考虑,其他XRD是辅助证据,XRF也是体相分析
18楼2014-07-18 23:02:10
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果粒橙198951

木虫 (小有名气)

引用回帖:
18楼: Originally posted by gxytju2008 at 2014-07-18 23:02:10
嗯,eds是体相分析,只能分析透射照出来的颗粒的全部成分情况,最好的还是XPS,SIMS也可以考虑,其他XRD是辅助证据,XRF也是体相分析...

非常感谢
19楼2014-07-19 10:19:56
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