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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 金属 » 测试表征 » 关于XRD所测得峰的特殊性分析
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xuezhenjie

铁虫 (小有名气)

[求助] 关于XRD所测得峰的特殊性分析

所测的一个纳米材料样品的数据，XRD显示的峰比较奇怪，如附图中圈内，峰的低角度起始比较尖锐，峰下来的时间比较宽化，请问有没有遇到这种情况的，是两个峰的重叠吗？还是说可能是因为某些晶面的掺杂引起的结构的变化？或者其它原因？
请各位多多指点。谢谢！

关于XRD所测得峰的特殊性分析
360截图20140616194747582.jpg
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为了……
1楼 2014-06-16 19:53:49
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xuezhenjie

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by 黄石道人 at 2014-06-17 11:42:02
确定不是仪器因素？先排除这点，再分析样品。
再看峰的形状，偏移；
一般非对称认为有层错，内应力一类的，具体的看Ungar的一些文章

十分感谢！不过，对这方面还真不了解，为什么层错，内应力会带来峰的不对称性，谢谢可以稍稍解释下，或有相关文章可以传个吗？
我这个可以确定不是因为仪器引起的。我是用正已烷溶解的纳米晶样品，滴在XRD专用的Si片上测试的。（样品片状的，大小20nm左右，厚1nm左右）。
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为了……
3楼2014-06-19 22:47:48
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黄石道人

新虫 (正式写手)
确定不是仪器因素？先排除这点，再分析样品。
再看峰的形状，偏移；
一般非对称认为有层错，内应力一类的，具体的看Ungar的一些文章
赞一下(1人) 回复此楼
2楼2014-06-17 11:42:02
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