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xuezhenjie

铁虫 (小有名气)

[求助] 关于XRD所测得峰的特殊性分析

所测的一个纳米材料样品的数据,XRD显示的峰比较奇怪,如附图中圈内,峰的低角度起始比较尖锐,峰下来的时间比较宽化,请问有没有遇到这种情况的,是两个峰的重叠吗?还是说可能是因为某些晶面的掺杂引起的结构的变化?或者其它原因?
请各位多多指点。谢谢!

关于XRD所测得峰的特殊性分析
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黄石道人

新虫 (正式写手)

确定不是仪器因素?先排除这点,再分析样品。
再看峰的形状,偏移;
一般非对称认为有层错,内应力一类的,具体的看Ungar的一些文章
2楼2014-06-17 11:42:02
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xuezhenjie

铁虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 黄石道人 at 2014-06-17 11:42:02
确定不是仪器因素?先排除这点,再分析样品。
再看峰的形状,偏移;
一般非对称认为有层错,内应力一类的,具体的看Ungar的一些文章

十分感谢!不过,对这方面还真不了解,为什么层错,内应力会带来峰的不对称性,谢谢可以稍稍解释下,或有相关文章可以传个吗?
我这个可以确定不是因为仪器引起的。我是用正已烷溶解的纳米晶样品,滴在XRD专用的Si片上测试的。(样品片状的,大小20nm左右,厚1nm左右)。
为了……
3楼2014-06-19 22:47:48
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