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CASTEP模拟得到的禁带宽度和实验测得的禁带宽度有没有可比性？
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| 各位大侠，小弟最近刚刚接触MS，想用CASTEP模块模拟材料的禁带宽度。有一个问题一直不太明白：密度泛函模拟的是0K时的材料禁带宽度，而实验测得的一般是室温的禁带宽度，两之间有很大差别（比如我的材料是PbSe，0K时禁带宽度为0.16-0.17eV，室温下为0.27eV），我如果写文章的话该怎么比较两者呢？还是各自比较？望各位大侠指教！谢谢！ |
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13楼2014-05-08 07:42:29
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小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
fzx2008: 金币+5, 谢谢回帖！ 2014-05-07 19:34:02
sxg861024: 金币+5 2014-05-07 19:34:12
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
fzx2008: 金币+5, 谢谢回帖！ 2014-05-07 19:34:02
sxg861024: 金币+5 2014-05-07 19:34:12
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目前CASTEP所采用的GGA和LDA对能带间隙的计算都是偏小的，甚至有时候把半导体和绝缘体（陶瓷）的能带间隙计算为零。要解决这个带间隙计算问题一般有三种思路： （1）采用精准的交换相关泛函：在文献中有看到“modified Becke-Johnson（mBJ） ”的算法，对能带的计算要比GGA和LDA都好。目前CASTEP中没有，如果采用Wein2k可以实现。当然也可以采用castep中的咋花交换相关泛函，例如PBE0、BY3LP、HSE03等。但是这种泛函只能采用模守恒赝势，因此需要的计算时间非常大。还有一种叫做GW的近似方法（VASP可以实现）。 （2）采用LDA+U或者是GGA+U的方式。至于U值如何确定，CASTEP给的默认值一般不准。论坛里面对于U值确定有很多讨论，有计算的方法也有实验的方法，你可以搜来看看。 （3）就是剪刀修正项了。注意到论坛里面很多人对这个方法不是很感冒啊，大都觉得不准确。且修正值 的确定也与实验相关。 |
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NickHu3楼2014-05-07 18:44:14
anlongstar
木虫 (文坛精英)
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6楼2014-05-07 19:08:23
7楼2014-05-07 19:11:17