图中的氧化膜厚度是怎么测的啊？？ - 微米和纳米 - 学术讨论

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银虫 (小有名气)

引用回帖:

8楼: Originally posted by changle9139 at 2014-04-11 12:18:30
你把样品条放在样品台的时候，直接下面垫一个东西试试
当然样品条（放样品的铜条，铝条），厚度小一点
这样有角度倾斜，也不会导致卡样品

图中测量方法是怎样测出来的效果那么好

11楼2014-04-11 17:05:27

银虫 (小有名气)

引用回帖:

7楼: Originally posted by gxytju2008 at 2014-04-11 11:08:30
可以，一般都有tilt功能，不过对于JEOL来说，通常不建议大角度倾斜，因为样品台会有卡住的风险，譬如30度以上的倾斜通常都建议直接使用斜面样品台...

图中测量方法是怎样测出来的效果那么好

12楼2014-04-11 17:05:37

专家顾问 (文坛精英)

引用回帖:

12楼: Originally posted by 忍者猫1007 at 2014-04-11 17:05:37
图中测量方法是怎样测出来的效果那么好...

感觉主要还是切的比较好，也有可能是做了很多找了一个小区域比较干净吧，应该不是用tilt做的，直接垂直沾起来的

13楼2014-04-11 17:59:50

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