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batmanhoho

金虫 (正式写手)

[求助] 请问一下,金属颗粒表面处理以后,如何观察截面?已有4人参与

如题,小弟有一些个位数um级别的Mg颗粒,在表面进行了一些F化处理,形成了MgF2层,XRD中可以表征出来。
但是,如何看到其他信息,比如说截面情况或者定量的分析表面的MgF2到底有多厚呢?
我能想到的就是镶样以后,随便用砂纸磨一下,期待有一些样品被磨损掉一些,然后通过扫面看到磨损出截面的情况。
但是感觉这个方法不可变数太多了点,而且非常耗时耗力,还幸亏是Mg颗粒比较软,相对容易变形。
求大神们路过指点,可能有哪些方法制备然后观察这种截面?
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer


【答案】应助回帖

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batmanhoho: 金币+5, 有帮助, 谢谢回帖 2013-12-30 10:43:06
制备金相试样和磨金相试样是必须的。将粉末和树脂混合起来一起凝固后作离子减薄,然后看透射TEM。
5楼2013-12-30 01:06:02
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

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batmanhoho: 金币+5, 有帮助, 谢谢回帖 2013-12-29 20:21:25
最直接的办法就是磨,太正常了,搞金相的天天干这个,或者XPS有离子枪,可以一层层轰掉,可以知道有多厚,但是没法成像,动态SIMS也有可能能给出深度信息,不过需要试试,我不太确定效果
2楼2013-12-29 15:02:56
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batmanhoho

金虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-12-29 15:02:56
最直接的办法就是磨,太正常了,搞金相的天天干这个,或者XPS有离子枪,可以一层层轰掉,可以知道有多厚,但是没法成像,动态SIMS也有可能能给出深度信息,不过需要试试,我不太确定效果

金相的话,确实是靠磨,但是这个颗粒很小啊,只有几个um那么大,能不能磨出来感觉非常不确定。。。
二次离子质谱是不是有点太高端了点。。。感觉用不起
3楼2013-12-29 20:49:36
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

引用回帖:
3楼: Originally posted by batmanhoho at 2013-12-29 20:49:36
金相的话,确实是靠磨,但是这个颗粒很小啊,只有几个um那么大,能不能磨出来感觉非常不确定。。。
二次离子质谱是不是有点太高端了点。。。感觉用不起...

包覆以后就大了啊。。又不是让你直接拿微米磨,那个不高端啊,类似XPS的样子,看看你们学校有没有吧,是小众点,不过不太贵
4楼2013-12-29 20:55:43
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