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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 微纳器件 » 请问纳米线用原子力显微镜怎么测，怎么制样啊？（越详细越好，谢谢）
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龙翔凤翥

金虫 (小有名气)

[求助] 请问纳米线用原子力显微镜怎么测，怎么制样啊？（越详细越好，谢谢） 已有4人参与

请问各位高手纳米线怎么用原子力显微镜测试形貌呢？应该选择什么模式测试？具体该怎么制样？我手里的纳米线样品是粉末状的
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1楼 2013-12-16 17:40:34
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龙翔凤翥

金虫 (小有名气)
引用回帖:
7楼: Originally posted by yuan999 at 2013-12-17 16:37:11
测试AFM一般要弄成薄膜，粉末很难测，而且误差估计非常大，可以用有机溶剂分散，采用旋涂或者其他方法在玻璃或者Si片形成薄膜，然后去测AFM...

哦，谢谢，我再试试
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10楼2013-12-18 15:14:26
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yuan999

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
看过一些文献上有测试纳米线的AFM的，应该采用的是非接触模式，特别是纳米线阵列
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我~心~依~旧
2楼2013-12-17 08:49:48
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龙翔凤翥

金虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by yuan999 at 2013-12-17 08:49:48
看过一些文献上有测试纳米线的AFM的，应该采用的是非接触模式，特别是纳米线阵列

我的样品是粉末状的，我应该怎么制样呢？用原子力显微镜扫描纳米线对制样有什么讲究吗？
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3楼2013-12-17 10:05:59
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偷懒的猫

金虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
把粉状的东西溶于乙醇中，滴到玻璃片上，形成一层膜，然后用轻敲模式测AFM。

[ 发自小木虫客户端 ]
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4楼2013-12-17 12:22:49
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