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yupengpeng1981

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

这有什么搞的啊?滴厚点就是啦,只要是测试EDS了,背地是单晶硅的,单晶硅的峰是很高的啊,作图的时候你可以再Origin里面把那个峰截掉就可以看到量子点的所含元素峰了啊。你去试试,可以就给我100个BB
11楼2013-11-17 13:26:43
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

引用回帖:
11楼: Originally posted by yupengpeng1981 at 2013-11-17 13:26:43
这有什么搞的啊?滴厚点就是啦,只要是测试EDS了,背地是单晶硅的,单晶硅的峰是很高的啊,作图的时候你可以再Origin里面把那个峰截掉就可以看到量子点的所含元素峰了啊。你去试试,可以就给我100个BB

所以才建议用透射EDS啊,没有背底峰的,会更准,另外截图这个你如果准备还在这行一直混不建议这么搞,直接把绘图范围调到你关心的位置就可以了,杂峰有是正常的,扔着放那
12楼2013-11-17 14:09:42
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shuimu22

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

tem
在较大的倍数下,使用会聚的光打在样品上
技术好的,一两个纳米的粒子都不是问题,当然 eds只能是定性的分析,最好也就是半定量
13楼2013-11-18 23:04:00
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shuimu22

木虫 (小有名气)

引用回帖:
4楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-11-11 17:33:34
是啊,超薄碳膜铜网,只要你要测的东西不含铜就可以,和照相完全一样的,只不过就是eds扫个点而已...

含铜就用其他的网 如Mo网
然后用铍台测
14楼2013-11-18 23:05:48
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

引用回帖:
14楼: Originally posted by shuimu22 at 2013-11-18 23:05:48
含铜就用其他的网 如Mo网
然后用铍台测...

Mo的貌似比较少见啊,可能我们这边用的少吧,我们一般含铜的话用Ni网,或者Au网
15楼2013-11-18 23:34:56
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