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关于霍尔系统测载流子浓度和迁移率的问题
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关于霍尔系统测载流子浓度和迁移率的问题
小弟做的是半导体纳米薄膜,用霍尔系统测电阻率,载流子浓度和迁移率时,发现电阻率差不多的两个样品,一个可以测得载流子浓度和迁移率,而另一个样品每次测得的值都不一样,而且差别很大。
霍尔可不可以测出来载流子浓度和迁移率主要的影响因素是什么?请指点一二!不胜感激呀!
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1楼
2013-08-29 20:45:06
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2楼
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mingze_even
at 2013-08-29 21:44:40
控制薄膜形状了么?直流的霍尔系统,受形状影响比较大,同一个样品不同形貌也会不同
谢谢。形状是相同的,只是两次压的电极不太一样,不知道这样影响大不大。
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5楼
2013-11-03 16:36:49
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mingze_even
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控制薄膜形状了么?直流的霍尔系统,受形状影响比较大,同一个样品不同形貌也会不同
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zyzhouying
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2013-08-30 23:44:19
首先,你测试是要在绝缘基底上面,形状最好规则,然后在你的薄膜上面蒸镀电极,让电极和薄膜是欧姆接触,同时可以减少探针和薄膜的接触电阻。
然后,霍尔测试实际上是通过四探针法测试电压,然后计算得到霍尔电压,通过你加的电流和磁场来计算其他参数,所以你测试的时候使用的电流大小要合适。
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3楼
2013-08-29 21:50:31
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3楼
:
Originally posted by
zyzhouying
at 2013-08-29 21:50:31
首先,你测试是要在绝缘基底上面,形状最好规则,然后在你的薄膜上面蒸镀电极,让电极和薄膜是欧姆接触,同时可以减少探针和薄膜的接触电阻。
然后,霍尔测试实际上是通过四探针法测试电压,然后计算得到霍尔电压, ...
谢谢,一般才用多大的电流比较合适呢?
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4楼
2013-11-03 16:35:46
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