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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 交流互助 » 磁控溅射再玻璃衬底上制备薄膜为什么做XRD测试时候测不出相应的峰呢？
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HHBWF

禁虫 (小有名气)
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xsz2013

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1楼 2013-04-14 16:02:50
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逗号一号

银虫 (初入文坛)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
6楼: Originally posted by 8710252 at 2013-04-14 22:23:15
薄膜很薄峰的强度一般很小，如果镀在硅片上，做一般的XRD能看到硅的峰，同时也能看见膜的峰，但是你在玻璃上，玻璃是非晶，XRD测出来应该是峰包的形状，可能是这个峰包的强度把薄膜峰的强度给盖住了，建议做掠入射

薄膜的强度一般都很弱，而硅的强度很大，薄膜的峰不是会被掩盖？
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27楼2014-08-25 10:51:47
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czwustc

木虫 (正式写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
chemlh: 欢迎积极交流 2013-04-15 09:52:09
要形成了相应结构才能被XRD测到的吧，如果只是被镀了上去而结构未知，则可以通过XPS鉴定所包含的元素。
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catalysisresearchwithPLD-STM-ARPES
2楼2013-04-14 17:09:04
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HHBWF

禁虫 (小有名气)
本帖内容被屏蔽
3楼2013-04-14 17:48:13
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晓乐和小翌

木虫 (正式写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
你是做的常规XRD检测还是掠入射？
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4楼2013-04-14 21:04:41
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