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UCLA华裔领军团队 电子断层影像重建技术新突破，分辨率达到原子级别
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位错及其相互作用影响着许多材料的性能，比如合金的强度以及发光二极管和激光器的效率。现如今人们已经可以借助几种实验技术来表征甚至看见位错。人们已经很早就开始用透射电子显微镜来观察材料中的位错，并用高分辨电子显微术—特别是在环形暗场像模式下，得到了位错芯的精细结构。尽管三维立体TEM技术已可以提供一些位错在三维空间的信息，但多数常规的TEM图像依然还是基于 一个对三维物体的投影。反射式X射线形貌像可以给出位错在三维空间中存在的状态，但分辨率却不是很好。结合弱束暗场TEM技术和STEM技术，电子断层成像技术已经可以实现在5nm分辨率下得到位错的三维信息。原子探针装置可以较高分辨率下得到位错的三维结构，但对样品形貌有特殊要求而且通常只能检测到样品中60%的原子。 来自UCLA的苗建伟研究组报告的电子断层成像技术已经可以实现原子分辨率下表征出位错的三维结构信息。应用3D傅里叶过滤和断层重建，在多层孪晶铂颗粒中看到了所有的原子。他们观察到了三维空间下的孪晶晶界处的原子台阶，并拍出了边缘和螺位错的芯结构的三维照片。孪晶晶界处的位错和原子台阶—释放应力，在传统二维投影中往往是看不到的。 对无序立体结构特别是位错实现原子分辨率下的三维成像对于材料科学，纳米科学以及固体物理和化学的研究应用有很大帮助。  Jianwei_John_Miao_Chris_Regan_and_colleagues_photo.jpg [ Last edited by yuxi-seu on 2013-3-29 at 13:25 ] |
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2013-03-29 13:21:05, 1.36 M
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9楼2013-03-30 14:14:12