应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 测试表征 » TCO衬底上金属氧化物薄膜方阻测试如何避免衬底影响
51/1返回列表
查看: 1856  |  回复: 14
只看楼主 @他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看
当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖

lymmaotou

金虫 (正式写手)

[交流] TCO衬底上金属氧化物薄膜方阻测试如何避免衬底影响

用RTS-8型四探针仪测试氧化物薄膜方阻，这里面几项要点有：
（1）通常TCO衬底都是简并半导体，所以跟样品薄膜之间应该是ohmic contact，所以不存在成结的条件，需要选用“薄膜方阻”技术；
（2）因为纳米晶膜厚大概也就只有几百nm，当样品尺寸很大时，修正系数基本接近4.5324，无需进行额外的厚度和边缘修正；
然而LZ搞不清楚的是在这些条件下进行测试，电力线会不会穿透样品薄层进入TCO层，这样一来测得的数据就不单单是样品薄膜的方阻了。尽管有两种假设，即选取小电流或者将样品做厚，但似乎也排除不了电流进入TCO层的可能。另外，在“薄膜方阻”技术中有一个“膜厚”选项，给出这个选项的意义到底是什么？难道说测试的时候选取膜厚量级在100nm时，仪器会智能到自动选取一个适当大小的电流并只穿透100nm的有效厚度从而排除导电衬底的影响？盼望大牛解惑！
回复此楼

» 猜你喜欢

» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)

» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:

» 抢金币啦！回帖就可以得到:

查看全部散金贴
1楼 2013-03-27 14:11:27
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

lymmaotou

金虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by dearhanzi at 2013-03-28 14:37:00
我怎么记得是在玻璃上镀膜测得阿， 你的基底一定是绝缘的哦

我的意思是在导电基底上镀膜的前提下如何避免基底的影响。。。
赞一下 回复此楼
4楼2013-03-28 22:25:10
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
查看全部 15 个回答

dearhanzi

金虫 (小有名气)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
我怎么记得是在玻璃上镀膜测得阿， 你的基底一定是绝缘的哦
赞一下 回复此楼
3楼2013-03-28 14:37:00
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

wangyong832

银虫 (著名写手)
★ ★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
蒋青松: 金币+1, 鼓励交流，回答很详细，非常感谢 2013-03-29 07:56:48
lymmaotou: 金币+1 2013-04-01 13:39:40
我的个人看法：
（1） 用4探针法时，电极是否是欧姆接触对测量结果影响不是很大，而且通常设备上电极都加了一定压力到薄膜上，很容易实现良好接触。
（2）方组是不考虑厚度的；当你想把方阻换算成电阻率时，修正系数4.53是pai/In2，厚度是另外一个参数；至于你想更精确的计算结果，你可以做一些厚度或边缘修正，将厚度和探针间距等因素考虑进去，但结果差别不是很大。
（3）当你薄膜电阻率远远高于你TCO衬底电阻率的时候，你测的结果肯定不是你薄膜的方阻。要小心哦
赞一下 回复此楼
5楼2013-03-29 05:19:08
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

lymmaotou

金虫 (正式写手)
引用回帖:
5楼: Originally posted by wangyong832 at 2013-03-29 05:19:08
我的个人看法：
（1） 用4探针法时，电极是否是欧姆接触对测量结果影响不是很大，而且通常设备上电极都加了一定压力到薄膜上，很容易实现良好接触。
（2）方组是不考虑厚度的；当你想把方阻换算成电阻率时，修正系 ...

对于第三条，如果具体到用RTS-8四探针仪测试的话，“薄膜方阻”技术那个“膜厚”选项到底有什么意义呢？如果我薄膜的衬底换成石英玻璃，是不是可以不管这个膜厚选项了？谢谢！
赞一下 回复此楼
6楼2013-03-29 10:33:15
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
查看全部 15 个回答
普通表情 龙 兔 虎 猫 高级回复 (可上传附件)
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭