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电镜观察样品断面的技巧
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lootus
木虫
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虫号: 264256
注册: 2006-07-08
性别: GG
专业: 有机高分子功能材料
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]
电镜观察样品断面的技巧
我先介绍下样品,硅片表面有一层微相分离的聚合物薄膜,膜厚约130nm,薄膜具有片层纳米结构,尺寸约40nm,用扫描电镜完全可以直接观察样品表面的纳米结构。
希望看这种纳米结构是否贯穿于整个膜厚(130nm),所以要看断面。我目前是直接将硅片裂开,选比较整齐的断面,直接观察。这样只能看到这一层薄膜的存在,完全无法观察到断面的细节(40nm左右的结构)。
请问有什么好办法?包括制样和观察。谢谢!
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1楼
2012-12-28 10:06:32
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temedx
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2012-12-29 08:46:19
是否可以用液氮冷冻后再掰断的方法来尝试一下?这样容易看到脆断的断面,只是不清楚你的样品是否会在液氮冷冻后结构发生变化。
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Everybodyissobusymindingotherppl'sbusiness,thattheyforgettofindtheirownhappiness.
5楼
2012-12-28 19:47:00
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xiaoshanbei
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直接将硅片裂开的时候可能对薄膜有破坏,你可以将薄膜附着在靠近硅片边缘的位置,然后把硅片立起来直接看
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2楼
2012-12-28 13:38:00
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semi-white
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Sem要考虑样品导电性 试着调整下参数。或者试试切片透射
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3楼
2012-12-28 18:13:55
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zhaoyuan0426
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导电性不好,40nm不容易看清楚
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4楼
2012-12-28 18:31:56
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