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如何用XRD 测量GaN薄膜的倒易空间
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公司有一台XRD, 是帕纳克的仪器，现在想知道如何用来测试蓝宝石上生长GaN的104衍射面的倒易空间。我首先用手动方式设置了104衍射面，然后手动优化了phi,w和2theta.接着编了程序Q扫描（里面说是倒易空间），其实程序也没有改动，就用系统的默认值，扫描范围是700rul,5分钟扫完了。最后看保存的文件后缀不是a00，用软件打开后也不是倒易空间的扫描二维图，打开后的图同扫描时出现的图一样，是曲线。 请问应该如何操作，谢谢！ [ Last edited by yuehaoliu on 2012-12-13 at 12:34 ] |
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3楼2012-12-15 17:28:59