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求助有没有了解肖特基势垒的变化与扫描电压方向的关系的资料
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| 大家好,目前测试样品的时候得到一些奇怪的数据 ,金属和半导体接触,功函数不同产生了肖特基势垒,但是我发现扫描的时候(0V→3V→0V)这种扫描方式,0V→3V的I-V曲线与3V→0V的曲线不重合,这个可能是什么原因造成的呢? 再次扫描也还是跟上一次一样。 有没有电压的变化(从小到大和从大到小)导致的肖特基势垒恢复速度不同的说法呢?求各位帮忙给点意见! 万分感谢! |
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| 顶一下 |
2楼2012-12-06 21:48:17

3楼2013-01-04 16:09:05
wu1008
金虫 (著名写手)
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4楼2013-01-06 00:13:39
chemlh: 建议直接上传图片 2013-01-12 10:43:42
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http://good.gd/2381852.htm 上传上去了 扫描曲线和扫描电压方向还有关系好像 比如0-3V和3-0V扫描出来的曲线就不一样 |

5楼2013-01-06 09:12:32

6楼2013-01-12 08:46:00














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