| 查看: 1069 | 回复: 5 | ||
[求助]
求助有没有了解肖特基势垒的变化与扫描电压方向的关系的资料
|
| 大家好，目前测试样品的时候得到一些奇怪的数据 ，金属和半导体接触，功函数不同产生了肖特基势垒，但是我发现扫描的时候（0V→3V→0V）这种扫描方式，0V→3V的I-V曲线与3V→0V的曲线不重合，这个可能是什么原因造成的呢？ 再次扫描也还是跟上一次一样。 有没有电压的变化（从小到大和从大到小）导致的肖特基势垒恢复速度不同的说法呢？求各位帮忙给点意见！ 万分感谢！ |
回复此楼» 猜你喜欢
全日制（定向）博士
已经有5人回复
-
假如你的研究生提出不合理要求
已经有10人回复
-
萌生出自己或许不适合搞科研的想法，现在跑or等等看？
已经有4人回复
-
Materials Today Chemistry审稿周期
已经有4人回复
-
参与限项
已经有3人回复
-
实验室接单子
已经有4人回复
-
对氯苯硼酸纯化
已经有3人回复
-
求助:我三月中下旬出站，青基依托单位怎么办？
已经有12人回复
-
所感
已经有4人回复
-
要不要辞职读博？
已经有7人回复
| 顶一下 |
2楼2012-12-06 21:48:17
3楼2013-01-04 16:09:05
wu1008
金虫 (著名写手)
- 应助: 243 (大学生)
- 金币: 1486.4
- 散金: 176
- 红花: 14
- 帖子: 1788
- 在线: 197.6小时
- 虫号: 1859230
- 注册: 2012-06-14
- 性别: GG
- 专业: 凝聚态物性 II ：电子结构
4楼2013-01-06 00:13:39
chemlh: 建议直接上传图片 2013-01-12 10:43:42
|
http://good.gd/2381852.htm 上传上去了 扫描曲线和扫描电压方向还有关系好像 比如0-3V和3-0V扫描出来的曲线就不一样 |
5楼2013-01-06 09:12:32
6楼2013-01-12 08:46:00