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我是一笼包子

金虫 (正式写手)

[求助] 求助有没有了解肖特基势垒的变化与扫描电压方向的关系的资料

大家好,目前测试样品的时候得到一些奇怪的数据 ,金属和半导体接触,功函数不同产生了肖特基势垒,但是我发现扫描的时候(0V→3V→0V)这种扫描方式,0V→3V的I-V曲线与3V→0V的曲线不重合,这个可能是什么原因造成的呢?    再次扫描也还是跟上一次一样。  有没有电压的变化(从小到大和从大到小)导致的肖特基势垒恢复速度不同的说法呢?求各位帮忙给点意见! 万分感谢!
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nofear
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顶一下
2楼2012-12-06 21:48:17
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我是一笼包子

金虫 (正式写手)

再顶一下~~
nofear
3楼2013-01-04 16:09:05
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wu1008

金虫 (著名写手)

有多大的不一样

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
4楼2013-01-06 00:13:39
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我是一笼包子

金虫 (正式写手)

chemlh: 建议直接上传图片 2013-01-12 10:43:42
引用回帖:
4楼: Originally posted by wu1008 at 2013-01-06 00:13:39
有多大的不一样

http://good.gd/2381852.htm
上传上去了  扫描曲线和扫描电压方向还有关系好像 比如0-3V和3-0V扫描出来的曲线就不一样
nofear
5楼2013-01-06 09:12:32
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我是一笼包子

金虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by wu1008 at 2013-01-06 00:13:39
有多大的不一样

求教~
nofear
6楼2013-01-12 08:46:00
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