| 查看: 1080 | 回复: 5 | ||
[求助]
求助有没有了解肖特基势垒的变化与扫描电压方向的关系的资料
|
| 大家好,目前测试样品的时候得到一些奇怪的数据 ,金属和半导体接触,功函数不同产生了肖特基势垒,但是我发现扫描的时候(0V→3V→0V)这种扫描方式,0V→3V的I-V曲线与3V→0V的曲线不重合,这个可能是什么原因造成的呢? 再次扫描也还是跟上一次一样。 有没有电压的变化(从小到大和从大到小)导致的肖特基势垒恢复速度不同的说法呢?求各位帮忙给点意见! 万分感谢! |
» 猜你喜欢
遇见不省心的家人很难过
已经有17人回复
退学或坚持读
已经有25人回复
博士延得我,科研能力直往上蹿
已经有4人回复
免疫学博士有名额,速联系
已经有14人回复
面上基金申报没有其他的参与者成吗
已经有4人回复
多组分精馏求助
已经有6人回复

| 顶一下 |
2楼2012-12-06 21:48:17

3楼2013-01-04 16:09:05
wu1008
金虫 (著名写手)
- 应助: 243 (大学生)
- 金币: 1486.4
- 散金: 176
- 红花: 14
- 帖子: 1788
- 在线: 197.6小时
- 虫号: 1859230
- 注册: 2012-06-14
- 性别: GG
- 专业: 凝聚态物性 II :电子结构
4楼2013-01-06 00:13:39
chemlh: 建议直接上传图片 2013-01-12 10:43:42
|
http://good.gd/2381852.htm 上传上去了 扫描曲线和扫描电压方向还有关系好像 比如0-3V和3-0V扫描出来的曲线就不一样 |

5楼2013-01-06 09:12:32

6楼2013-01-12 08:46:00













回复此楼