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四探针方法测试薄膜的面电阻问题
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hbf
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四探针方法测试薄膜的面电阻问题
四探针方法测试薄膜的面电阻,4个探针很难保证与薄膜表面有良好的接触,那么,需要在薄膜表面上制备电极么,然后再把探针头放在四个小的电极上,各位大虾在利用四探针测试薄膜的面电阻时,都是如何保证探针和薄膜表面接触性问题的,希望不吝赐教
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关于四探针法测半导体薄膜的电阻
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1楼
2012-09-16 14:34:05
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四探针法测薄膜的电阻无需用电极,直接接触样品即可。实际上,四探针法通常主要用来测电导率比较大的样品,之所以用四探针就是因为薄膜本身电阻小,此方法可以消除探针与薄膜之间的接触电阻,从而测到薄膜真正的电阻率,具体原理请参考任何一本关于四探针方法的书或文献。因此,无需制备电极以减小接触。实际上,如果制备电极就会使接触变为非点接触,从而改变四探针方法所依赖的模型,反而会带来更大的误差。
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13楼
2014-05-13 17:19:13
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蒋青松: 金币+1, 鼓励交流
2012-09-19 07:54:56
首先要清晰样品,表面没有污垢,然后又几种办法可以参考:一、直接点铟,要求样品相对比较坚固,二、可以用普通银胶,三可以用AB银胶1:1混合,如果烘烤,如果样品小,可以先点金线,再点铜线
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5楼
2012-09-17 08:10:24
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wu1008
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按照仪器的操作说明,抵消探针与薄膜的接触势垒
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2楼
2012-09-16 18:03:27
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yueeryjf
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请问你的薄膜是什么材质的?
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3楼
2012-09-16 21:45:02
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4楼
2012-09-17 07:19:39
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feisiyan
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2012-09-19 07:55:18
这要看你做的薄膜是什么材质的 既然要测电阻 必然具有一定的导电性 我做的材料不用在上边度电极 直接将探针接触测就可以
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6楼
2012-09-18 15:12:39
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feisiyan
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这要看你做的薄膜是什么材质的 既然要测电阻 必然具有一定的导电性 我做的材料不用在上边度电极 直接将探针接触测就可以
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7楼
2012-09-18 15:19:07
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hbf
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feisiyan
at 2012-09-18 15:12:39
这要看你做的薄膜是什么材质的 既然要测电阻 必然具有一定的导电性 我做的材料不用在上边度电极 直接将探针接触测就可以
半导体薄膜,方阻比较大,
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8楼
2012-09-19 20:08:19
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hbf
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bqian1
at 2012-09-17 08:10:24
首先要清晰样品,表面没有污垢,然后又几种办法可以参考:一、直接点铟,要求样品相对比较坚固,二、可以用普通银胶,三可以用AB银胶1:1混合,如果烘烤,如果样品小,可以先点金线,再点铜线
半导体薄膜,方阻比较大
问题是四探针间距很小,做了电极以后,不容易放上去,要做引线,这样误差大么,求指 教
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9楼
2012-09-19 20:11:37
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四根探针间距仅仅1mm,要做铟电极之类是不是太难了。有条件的就换一种方法测试,直接做霍尔测试,方便做电极,也准确一些,载流子浓度等等都有了
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10楼
2012-11-30 15:55:38
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似水流年123
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11楼
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酒肉和尚
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10楼
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zcq4891
at 2012-11-30 15:55:38
四根探针间距仅仅1mm,要做铟电极之类是不是太难了。有条件的就换一种方法测试,直接做霍尔测试,方便做电极,也准确一些,载流子浓度等等都有了
霍尔效应仪测半导体薄膜的话,也要保证良好的欧姆接触,直接探针接触是不行的,也需要做做电极的。
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12楼
2014-04-14 19:50:40
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bluegenes
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四探针不需要做电极,直接压上去就可以
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14楼
2022-03-10 13:44:53
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