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小木虫论坛-学术科研互动平台» 网络生活区» 有奖问答 » 有奖问答中转子版 » 样品处理方式是否会对XRD衍射峰强度造成影响？
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quan_567

银虫 (小有名气)
同意基底定向生长，有择优取向的。是导致峰强不一致的原因
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心诚则明~
11楼2007-06-03 15:49:37
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chenyugang2007

金虫 (小有名气)
样品的XRD测量应研磨成粉体后进行,这样能真实反映样品的结构,
而经过粘结剂压片后测量则对XRD有影响,还是依研磨成粉体后测量的为准.
我在做锂电材料时也看到这种情况.
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12楼2007-06-08 15:50:50
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qst2000

银虫 (小有名气)
有时做XRD粉末衍射时样品研磨太细，破坏了晶粒的完整性，导致出的峰很小。
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吹化
13楼2007-06-14 18:55:38
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phonolite

无虫 (初入文坛)
引用回帖:
Originally posted by whpit at 2007-6-3 09:04 AM:
参与衍射的体积不同？厚的薄膜的衍射峰要强于薄的薄膜，如果考虑择优取向的话，你可以对比下标准卡片，看看卡片的最强峰出现的位置。如果不是同一衍射晶面就可能是择优取向的影响

按照您的说法，如果是因为薄膜厚度问题，应该是所有衍射峰强度都有所提高或者降低，我遇到的问题是惟有标志材料特征的最强峰信号加强了，其他衍射峰强度竟然是一样的。
另外，您说的那种验证择优取向的方法，我不明白:为什么峰位置变了才证明是择优取向？
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14楼2007-06-16 11:39:17
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