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quan_567

银虫 (小有名气)

同意基底定向生长,有择优取向的。是导致峰强不一致的原因
心诚则明~
11楼2007-06-03 15:49:37
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chenyugang2007

金虫 (小有名气)

样品的XRD测量应研磨成粉体后进行,这样能真实反映样品的结构,
而经过粘结剂压片后测量则对XRD有影响,还是依研磨成粉体后测量的为准.
我在做锂电材料时也看到这种情况.
12楼2007-06-08 15:50:50
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qst2000

银虫 (小有名气)

有时做XRD粉末衍射时样品研磨太细,破坏了晶粒的完整性,导致出的峰很小。
吹化
13楼2007-06-14 18:55:38
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phonolite

无虫 (初入文坛)

引用回帖:
Originally posted by whpit at 2007-6-3 09:04 AM:
参与衍射的体积不同?厚的薄膜的衍射峰要强于薄的薄膜,如果考虑择优取向的话,你可以对比下标准卡片,看看卡片的最强峰出现的位置。如果不是同一衍射晶面就可能是择优取向的影响

按照您的说法,如果是因为薄膜厚度问题,应该是所有衍射峰强度都有所提高或者降低,我遇到的问题是惟有标志材料特征的最强峰信号加强了,其他衍射峰强度竟然是一样的。
另外,您说的那种验证择优取向的方法,我不明白:为什么峰位置变了才证明是择优取向?
14楼2007-06-16 11:39:17
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