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dgz5530739

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[求助] 在不导电衬底上镀导电薄膜,有哪些方法可以测薄膜的电学性能

如题,且基底不是平板状
谢谢!
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呜呼.....
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dgz5530739

捐助贵宾 (著名写手)

引用回帖:
10楼: Originally posted by wu1008 at 2012-08-25 22:39:22
阻抗分析仪是测交流信号的

半导体分析仪,配上探针(或者必要的结构)是可以的...

非常感谢!你说的配上探针是指设备的改动吗?还是利用其自带的东西可以实现?
再请教你下,如果测薄膜的电阻的话,薄膜是镀在非平面的不导电基底上可以直接测吗?是不是配上探针后也像四探针那样直接用?
呜呼.....
11楼2012-08-25 22:47:58
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wu1008

金虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
四探针
是不是平板状不是特别重要,当然,可能需要一些修正
2楼2012-08-22 11:12:10
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dgz5530739

捐助贵宾 (著名写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by wu1008 at 2012-08-22 11:12:10
四探针
是不是平板状不是特别重要,当然,可能需要一些修正

嗯   四探针的试验条件不具备的话 还有其它方法吗?
还有 四探针设备大约多少钱?呢 请教了
呜呼.....
3楼2012-08-22 11:28:28
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wu1008

金虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

引用回帖:
3楼: Originally posted by dgz5530739 at 2012-08-22 11:28:28
嗯   四探针的试验条件不具备的话 还有其它方法吗?
还有 四探针设备大约多少钱?呢 请教了...

都是用四探针,这是一个标准的测试手段,国产的话,1W左右吧
4楼2012-08-22 12:36:17
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