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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 测试表征 » 请问关于XPS全谱的问题，谢谢大家！
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meteorabob

铜虫 (正式写手)

[交流] 请问关于XPS全谱的问题，谢谢大家！

如题，我在Si衬底上滴的纳米颗粒做的XPS表征，没有让老师测Si元素的峰，而全谱里面也没有Si的峰。是因为我没让老师做Si的峰，所以不管有没有Si，在全谱里都不会出现Si的峰？还是因为本来就没有Si元素，可能是试样比较厚都把Si衬底盖住了？

谢谢大家！
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1楼 2012-06-28 10:46:35
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meteorabob

铜虫 (正式写手)
引用回帖:
4楼: Originally posted by xing_bing at 2012-06-28 15:54:20
是这样的，XPS测试时有一定的深度范围，一般在10-20 nm左右，跟所用的X射线强度有关，如果没有测到衬底Si的峰，那应该入射深度没达到衬底，所以没测到

想再请问是不是只要在试样表面的元素都会在XPS全谱里出现峰，而不是说要给测试老师说测某种元素才能有这种元素的峰吧？谢谢！
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7楼2012-06-28 23:38:43
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yjiaahedu

银虫 (著名写手)
★
meteorabob(金币+1): 谢谢参与
去问做测试的老师不是更好吗！
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2楼2012-06-28 11:20:57
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xiejf

专家顾问 (文学泰斗)
★ ★
meteorabob(金币+1): 谢谢参与
zhaohaixing: 金币+1, 鼓励交流~ 2012-06-28 16:31:33
全谱上对着硅的位置找找
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3楼2012-06-28 11:58:04
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xing_bing

金虫 (小有名气)
★ ★
zhaohaixing: 金币+1, 鼓励交流~ 2012-06-28 16:31:43
meteorabob: 金币+1 2012-06-28 23:35:49
是这样的，XPS测试时有一定的深度范围，一般在10-20 nm左右，跟所用的X射线强度有关，如果没有测到衬底Si的峰，那应该入射深度没达到衬底，所以没测到
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4楼2012-06-28 15:54:20
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