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monika1139

新虫 (著名写手)


[交流] 如何对500微米厚度以内的金属样品侧面进行XRD、TEM等测试

RT。我的样品厚度很小,一般都是二三百微米厚,是一个薄层,现在想对样品的薄层面进行测试分析,打听了很久了,由于厚度太小,是个侧面,XRD做下来可能峰强度太小,并且测试时没法固定;而透射又不好取样制样,哪位做过类似的实验,望交流下
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monika1139

新虫 (著名写手)


引用回帖:
14楼: Originally posted by macroH at 2013-08-06 21:08:21
聚焦离子束,形象点就是一个离子刀,可以一边切一边看。对薄膜最适合做TEM样品。...

这个制样的方法费用高吗

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
15楼2013-08-07 00:24:51
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jackiejia

铁杆木虫 (正式写手)



monika1139(金币+1): 谢谢参与
我以前也有这样的问题,确实不好解决。当时的想法是几个样品并排放着弄。
2楼2012-06-14 10:09:20
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monika1139

新虫 (著名写手)


引用回帖:
2楼: Originally posted by jackiejia at 2012-06-14 10:09:20
我以前也有这样的问题,确实不好解决。当时的想法是几个样品并排放着弄。

并排放的话,中间多多少少有间隙和空隙的,是否影响衍射的结果,强度会不会分散
3楼2012-06-14 10:51:07
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leking137joey

金虫 (正式写手)



monika1139(金币+1): 谢谢参与
引用回帖:
3楼: Originally posted by monika1139 at 2012-06-14 10:51:07
并排放的话,中间多多少少有间隙和空隙的,是否影响衍射的结果,强度会不会分散...

不会 放心去做吧 而且 可以磨成粉末做xrd
TEM需要叠片
4楼2012-06-14 10:53:45
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