| 查看: 5059 | 回复: 9 | ||||||||||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | ||||||||||
gyliu铁杆木虫 (职业作家)
|
[交流]
关于XRD粉末衍射PDF卡片Quality Mark问题 已有7人参与
|
|||||||||
|
当你看到一个PDF卡片数据，不要轻易迷信它，你先看看它数据是否可靠，级别高不高，如图中我用红色圈起来的地方。PDF卡片按数据来源和可靠性分了好几个级别，每个级别都用一个字符来表示，下面是ICDD对这些级别的介绍： Quality Mark The quality mark option allows the user to select only patterns for which the appropriate quality mark is prescribed. The quality mark selection can be "*" (star quality pattern); an "I" (indexed pattern); a "0" (low precision pattern); a "C" (calculated pattern); an "R" (Rietveld pattern); or a "blank" (undefined quality pattern). The user may also select "All" (which is also the default value); that causes the program to select all patterns independently of the quality mark. Any one of the following Quality Marks can be chosen: "*" A "Star" quality pattern represents high quality diffractometer or Guinier data; the chemical composition is well characterized; intensities have been measured objectively; and no serious systematic errors exist. The average delta 2theta is less than 0.03 deg. "I" An "Indexed" quality mark indicates that the pattern has been indexed (thus is almost certainly single phase). There is a reasonable range and even spread in intensities; there are no serious systematic errors and the average delta 2theta is less than 0.06 deg. "0" A "Zero" quality mark means that the diffraction data have been taken on poorly characterized material or that the data are known (or suspected) to be of low precision. "B" A "Blank" quality mark is assigned to patterns which do not meet the "*", "I", or "0" criteria "R" A "Rietveld" quality mark is used for patterns where it is clear that the d-values are directly the result of Rietveld refinement of the data. However, Rietveld refinements are accepted only in unusual cases. "C" A "Calculated" quality mark is assigned to those patterns which have been calculated from single crystal data. C patterns generally have very precise d-values, but the intensities may not reflect what is obtained in an experimental pattern. Selection of one of these quality mark restrictions will limit the patterns retrieved to patterns containing that mark. For example, selection of "C" patterns will retrieve only calculated patterns. 希望这个介绍能对大家以后分析数据有所帮助。  [ Last edited by gyliu on 2012-5-31 at 16:12 ] |
回复此楼» 收录本帖的淘帖专辑推荐
 科研软件 | 百宝箱收集 | 淘贴集 | 材料合成与表征 |
| XRD测试与分析 | 学术偶得 | 实验经验收集 |
» 本帖已获得的红花（最新10朵）
莫道无言» 猜你喜欢
在MOF中，有没有羧基参加配位的情况
已经有2人回复
-
招2026年入学上海交通大学博士生，急！！！
已经有1人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有128人回复
-
理论计算合作
已经有0人回复
-
求高校合作
已经有1人回复
-
27级无机化学申博自荐
已经有2人回复
-
Chemdraw免费软件
已经有0人回复
-
单晶结构解析，各类疑难晶体数据处理和答疑
已经有38人回复
-
这个水相反应有没有催化剂促进发生
已经有4人回复
-
Mn Me3TACN
已经有5人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 求HCP纯锆（Zr）的XRD卡片
已经有6人回复
- 关于XRD衍射峰的分析
已经有5人回复
- 粉末XRD与单晶模拟XRD中，有少数几个衍射峰比对不一致，修改文章急需解答！！！谢谢！
已经有6人回复
- 审稿意见关于XRD Rietveld refinement
已经有3人回复
- 关于XRD粉末衍射
已经有4人回复
- XRD分析用pdf卡片，2004版
已经有154人回复
- 求助，XRD粉末衍射图谱分析的问题
已经有9人回复
- pdf标准卡片择优问题
已经有4人回复
- 求助粉末衍射数据库（JCPDS）中的ZnSnO3卡片数据
已经有7人回复
- XRD测试 样品的衍射峰的位置与PDF卡片吻合 但强度不吻合 求解释
已经有16人回复
- 如何根据XRD图谱确定一个新的PDF卡片---奖励20金币
已经有8人回复
- 求粉末衍射标准氧化铁和氧化亚铁XRD图谱
已经有9人回复
- XRD中PDF卡片中怎么找不到K值？
已经有6人回复
- 【求助】XRD分析中，pdf卡片里的数据，用什么软件转化成标准的衍射图谱？
已经有12人回复
- 求助{粉末衍射卡片集}（PDF），急急！
已经有4人回复
- 【请教】XRD粉末衍射问题
已经有22人回复
- 【求助】如何由XRD粉末衍射解晶体结构
已经有27人回复
- 【求助】粉末XRD衍射强度的问题
已经有7人回复
julietzhu
银虫 (小有名气)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 1834.4
- 散金: 70
- 红花: 3
- 帖子: 247
- 在线: 106.8小时
- 虫号: 932879
- 注册: 2009-12-24
- 性别: MM
- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
7楼2012-06-01 09:20:22
2楼2012-05-31 10:28:56
 |
3楼2012-05-31 10:34:14
julietzhu
银虫 (小有名气)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 1834.4
- 散金: 70
- 红花: 3
- 帖子: 247
- 在线: 106.8小时
- 虫号: 932879
- 注册: 2009-12-24
- 性别: MM
- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
5楼2012-05-31 17:18:49
28