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hbc1234

木虫 (小有名气)

[求助] 薄膜样品放置一年多后,PL谱出现416nm与438nm双峰,请大家分析原因

上传图片为在Si基片上利用磁控溅射生长的La掺杂的HfO薄膜,镀好后放置了一年多.最近在做PL谱的时候发现了416nm与438nm的双峰(Xe灯为激发源,280nm),请问有谁知道这两个峰的来源?

这两个峰在放置两年的ZnO薄膜上也出现过,而且该ZnO膜经过氨水刻蚀之后,双峰消失,因此我猜测是长期放置造成的,我只是想知道其具体的来源,是表面缺陷、杂质、还是潮解?发上来就是想看看有没有人见过这样的现象

HfO-La-PL

[ Last edited by hbc1234 on 2012-5-4 at 23:03 ]
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hbc1234

木虫 (小有名气)

呃……没人遇到过类似的问题么?大家帮忙分析一下啊
2楼2012-05-07 07:41:40
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qinh_csu

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

可能是薄膜表面发生了一定的变化,化学性质出现了变化
3楼2012-09-28 18:55:13
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