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匿名

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KOP

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11楼2012-02-15 10:55:26
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qianshou

木虫 (正式写手)

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zhihaikou(金币+2): 3q 2012-02-15 16:42:23
首先椭偏仪肯定不是最合适,椭偏仪测量结果只有参考价值。
12楼2012-02-15 16:07:06
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匿名

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KOP

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13楼2012-02-15 16:42:48
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suntec

木虫 (正式写手)

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zhihaikou(金币+2): ★★★很有帮助 3Q 2012-02-17 09:40:05
椭圆偏振仪可以测到埃米级别的厚度
14楼2012-02-16 09:20:04
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cyjpu

银虫 (正式写手)

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zhihaikou(金币+4): ★★★很有帮助 3Q 2012-02-17 09:41:24
椭偏仪是可以测膜厚,但不适用于所有的薄膜。
楼主应该把材料说的更清楚一些。
我觉得AFM应该能搞定,困难在于怎么类似做一个台阶。
办法总比困难多嘛~
仅供参考。
还有跟DLS一点关系都没有吧~~
15楼2012-02-16 11:03:51
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cyjpu

银虫 (正式写手)

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zhihaikou(金币+2): ★★★很有帮助 3Q 2012-02-17 09:41:44
还有,用TEM作截面也行的吧,反正你的膜也很薄
选择什么方法还跟你的材料有直接关系
16楼2012-02-16 11:05:44
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jinaipurwd

新虫 (小有名气)

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zhihaikou(金币+1): 有帮助 3Q 2012-02-17 09:41:57
测试吸脱附等温线,石墨烯的比表面及孔径,可以用比表面测试仪、物理吸附仪,我可以帮你免费检测一下样品,有兴趣加我Q:2669564796.
看破浮生过半,心情半佛半神仙!
17楼2012-02-16 11:50:46
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mltr8539

木虫 (正式写手)

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zhihaikou(金币+2): ★★★很有帮助 3Q 2012-02-17 09:42:07
总觉得AFM是表征纳米级厚度最好用的工具。
18楼2012-02-16 12:49:29
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匿名

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19楼2012-06-19 21:48:07
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