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sss3012

银虫 (正式写手)

[求助] 半导体价带顶和能带间隙计算?

近来看了一些文献发现,半导体的能带间隙通过,[E(1)-E(0)]-[E(0)-E(-1)]获得,其中E(Q)表示体系带Q电荷的总能。而价带顶通常通过)[E(0)-E(-1)]获得。另一种方法是用CASTEP计算,通过查看带结构计算的数据,找到价带顶和导带底,从而获得能带间隙。我发现两种方法得到数据有一定差异,例如利用第一种方法计算ZnO带隙是0.96eV,这确实和文献的结果一致,但用第二种方法得到能带间隙为0.8eV.两种方法得到价带顶也差1eV,我搞不懂这是为啥?期待高手给我指点迷津,谢谢!
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sss3012

银虫 (正式写手)

这不是我想要知道的,朋友
3楼2011-11-12 11:36:50
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liuchangzzw

铜虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖


uuv2010(金币+1): 欢迎参加交流 2011-11-12 10:09:15
基于密度泛函理论建立的计算软件,计算带隙时会比实际值偏小
2楼2011-11-12 09:59:38
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fzx2008

荣誉版主 (著名写手)

优秀版主优秀版主

【答案】应助回帖

★ ★
zzy870720z(金币+2): 谢谢指教 2011-11-12 15:12:28
sss3012(金币+5): 2011-11-12 16:00:40
“两种方法得到价带顶也差1eV,我搞不懂这是为啥?”

比较两种方法的价带顶的能量绝对值没有意义

其二,castep能带计算的gap等于0.8跟实验值0.9(?)相比算是很好的结果了。(注:不但要从能带图上看gap,严格点来说从能量本征值里面读取再作差)
4楼2011-11-12 14:33:01
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alvin510

银虫 (小有名气)

计算能带结构时是否考虑加入了电子自旋啊?
5楼2011-11-13 00:10:10
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