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石英晶体微天平QCM的问题
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| 请问石英晶体微天平测量膜表面质量变化时对膜的形状有要求么，比如说微孔性的膜表面（如聚四氟乙烯等）可以用这个方法来测量其质量的变化么？？？ |
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8楼2012-02-27 14:00:20
sdtian
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zp1988032楼2011-10-24 15:14:52
3楼2011-10-24 16:12:50
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wgs8136(金币+3): 欢迎常来~ 2011-10-25 11:47:26
zp198803(金币+5): 2011-11-07 16:28:11
wgs8136(金币+3): 欢迎常来~ 2011-10-25 11:47:26
zp198803(金币+5): 2011-11-07 16:28:11
| 如果只是多孔性，QCM当然是测不出来的，QCM测量的是质量变化，AFM想看到多孔膜上的孔是很困难的，nm级的可能还可以，再小就不行了，可能用HRTEM可以看得到。举个例子，QCM最适合的测量模式：有一个聚合物薄膜，干燥的时候，和被水浸润形成水合层以后的质量变化了，可以用QCM表征这种变化。一般来说，形成水合层等大尺度的质量变化，QCM才能测得比较准。薄膜与溶剂结合后膜厚度变化在几十nm就是比较理想的可测量状态。 |
5楼2011-10-25 11:11:47
