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[求助]
【求助】求助文献， 有限期2011年9月8日
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| OSSADNIK C, VEPREK S and REGORA I G. Applicability of Raman Scattering for the Characterization of Microcrystalline Silicon [J]. The Solid Films, 1999,337:148~151. |
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qfw_68
版主 (文坛精英)
有尾巴的青蛙
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【答案】应助回帖
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