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1楼 2011-07-19 16:41:41
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ouyang911

金虫 (正式写手)
★
riyao86(金币+1):谢谢参与
riyao86(金币+1): 2011-07-20 08:39:39
个人建议：1、应该重新处理样品（焙烧），重新测试孔分布，看结果是否一样。2、3.5nm处也有可能为氮气吸附或脱附时产生的假峰。你制备的是哪种分子筛？
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7楼2011-07-19 20:44:06
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sunjie_1018

铁杆木虫 (小有名气)
★
riyao86(金币+1):谢谢参与
恭喜你，可以测微孔了
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2楼2011-07-19 17:50:35
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xhtangxh

木虫 (著名写手)
★
riyao86(金币+1):谢谢参与
riyao86(金币+1): 2011-07-19 19:46:14
dy322112: 我听人说脱附支4nm处可能是赝峰，看不出测试点位置有不妥之处　 2011-07-20 23:06:47
这很正常呀，从图上看基本上可以肯定是无孔，那个可怜的小尖是设置测试点位置/间距不恰当产生的赝峰，这对生手来说极具欺骗性，你在附近增加几个测试点再测一次就不会看到了。对无孔或孔径极小的固体，靠低压一侧吸附量随压强的变化率很大，这个分布图显示的就是这种变化趋势，没什么可奇怪的。
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3楼2011-07-19 18:16:09
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amytaotao665

木虫 (小有名气)
★
riyao86(金币+1):谢谢参与
riyao86(金币+1): 2011-07-19 19:46:19
应该微孔分子筛在测介孔的仪器上测试时会出现这种情况吧，俺以前也遇到过，应该是微孔，因为我的分子筛是微孔的，如果那个上升的直线处不算孔的话，那俺分子筛就没孔了。
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4楼2011-07-19 19:28:52
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