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junhuisun

铜虫 (正式写手)

这个问题对二氧化钛好解决,随处可见。lz可以看一些综述文献都能找到。
11楼2011-12-06 11:30:48
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498552682

新虫 (初入文坛)

紫外可见吸收光谱可以测禁带;价带位置可以由价带XPS计算。
12楼2012-06-20 17:40:11
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meteorabob

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
2099141楼: Originally posted by xiejf at 2011-07-12 09:46:47
带隙可以通过紫外吸收来测,价带高度可以通过XPS的价带谱来测~

你好,我想请问一下,价带谱做出来的价带高度是相对于什么能级而言的呢?真空能级吗?还是费米能级?
13楼2012-06-29 10:25:59
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meteorabob

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
2137215楼: Originally posted by tan-tt at 2011-07-20 15:53:35
简单的方法可能不太容易。
可以先测出能隙,用荧光谱或者吸收谱测量。
然后用紫外光电子能谱,最好是用同步辐射光电子能谱,测量价带顶相对于费米能级的位置,进一步可以测出功函数,得到表面真空能级,这样就基 ...

你好,我想请问一下,功函数怎么测呢?谢谢!
14楼2012-06-29 10:27:45
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