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tzhnet

木虫 (正式写手)

[求助] 电滞回线测试

电滞回线测试的时候，总是有一个小缺口，如图所示
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1楼2011-06-08 20:25:21
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guody

铁杆木虫 (正式写手)
★ ★ ★
zhaohaixing(金币+1): 鼓励回答~ 2011-06-10 08:56:09
shecf(金币+2): 代发 2011-06-20 08:35:35
引用回帖:
Originally posted by diwunju at 2011-06-09 12:36:47:
这个缺口就是极化的弛豫，因为你设定的测量波形里有一个预极化的脉冲，这个脉冲结束之后真正的测量脉冲开始之前有一段时间，Radiant的机器默认是1秒，就在这段时间里极化弛豫了。这个没什么，做铁电的人都知道。

这个是正解
如果关注其存储性能的话，这就是它的保持特性，在一个脉冲后，撤去电压，其剩余极化会稍稍降低，所以就存在这个缺口

Radiant的都有缺口
TF的没有，似乎是通过一定模拟或者什么手段避免了这缺口出现

当然如果缺口太大，说明膜的保持性比较差

影响保持特性的因素很多：薄膜本身质量非常关键
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求木之长者，必固其根本；欲流之远者，必浚其泉源；思国之安者，必积其德义。
8楼2011-06-09 20:19:01
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pcsmine

木虫 (著名写手)
你想说明什么问题呢？
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2楼2011-06-08 22:11:46
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03301223

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

tzhnet(金币+3): 很好，但是，这个电压不同，是电极不同造成的，还是其它原因，如：内部极化 2011-06-09 11:03:58
没有问题的，这是因为正向与反向电压不完全相同造成的
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4楼2011-06-09 09:23:11
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tan-tt

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★
zhaohaixing(金币+1): 谢谢交流~ 2011-06-10 08:55:45
tzhnet(金币+1): 2011-06-14 09:29:03
怀疑是由于电导的时间延时效应引起的，能否将电场施加方向改变，比如从0-->+10-->-10V;改为0-->-10-->+10V，或者将测试的两电极互换，再观察这个缺口位置。铁电测试中的电滞回线会经常受电流的延时效应影响，在测高阻半导体I-V时，经常会观察到-->-10-->+10V-->-10V，这样的double I-V曲线不重合，这样是很容易测出电滞回线的，但是这不是铁电效应。
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5楼2011-06-09 11:29:52
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